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在環境試驗條件下，對待測物的相關特性進行連續且高速的動態測量，即時把握待測物電氣或物理特性的動態變化，並判定與記錄各種異常狀況之自動測量系統，簡稱HSIR離子遷移量測系統。
為了滿足這兩方面的需求，必須更有效、更精確地實施相關環境試驗測試。慶聲科技為了協助客戶達
到這方面的環境試驗需求，將環境試驗設備與電氣特性量測設備互相結合。
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| 產品特點Product Feature： | 相關技術文章Technical Paper： |
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科技創新技術 |
| ☆各軌具備洩漏電流偵測迴路，各軌同步紀錄離子遷移狀態(發生時間、結束時間、遷移時間) |
| ☆世界首創軌道發生遷移，不停止量測，可持續記錄遷移發生情況 |
| ☆寬裕量測與施加電壓0.5V∼600V(解析度0.1V)，高阻量測可高達10^14Ω(ohm) |
| ☆量測軌道擴充彈性大而且換裝容易，可單獨擴充一軌，最大可擴充128軌 |
| ☆高阻量測可高達10^14Ω(ohm) |
| ☆高效益多channel刀鋒系統 |
| ☆各channel電壓＆取樣時間彈性設定 |
| ☆智慧型EXCEL分檔系統 |
| ☆靈活規劃 |
| ☆符合無鉛規範試驗要求 |
| ☆全程掌握遷移生長狀態＆時間 |
☆Toshiba＆IPC-B-25A SIR測試電路注意事項
☆離子遷移量測系統•環境試驗常見問題整理
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高效益多channel刀鋒系統 |
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各channel電壓＆取樣時間彈性設定 |
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智慧型EXCEL分檔系統 |
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靈活規劃 |
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符合無鉛規範試驗要求 |
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全程掌握遷移生長狀態＆時間 |
| 技術規格Specification table： |
| 產品名稱 | HSIR-2003 (高速離子遷移量測系統) |
| 測定電壓範圍 | 0.5V∼ 600V(0.1V STEP) |
| 最大channel數 | 128 Channel |
| 電阻量測範圍 | 1×10^4Ω∼1 ×10^14Ω |
| 直流電流測定範圍 | (10pA∼500uA)自動切換5段直流電流量測範圍 |
| Bias Supply 方式 |
1 Power Supply → 1 CH (channel獨立設定/獨立動作) 若任1CH短路時，Alarm顯示，其他CH繼續執行試驗 |
| 資料取樣速度 | 每1CH最快30ms(各軌獨立設定不同取樣時間) |
| 自我校正機能 |
1.Bias電壓自我測試 2.A/D轉換器、I/V轉換器可自我診斷 3.提供5個 不同範圍1MΩ∼10GΩ比對用電阻 |
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※以上規格僅供參考，如有變更不另行通知。 |
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| 資料下載Data Download： |
縮圖 |
名稱 | 檔案大小 | 頁數 |
下載 |
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HSIR-2003 高速離子遷移量測系統 |
(size: 1911KB) |
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SIR相關資料整理 |
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SIR試驗條件 |
無鉛製程的相關可靠度問題，對於PCB&FPC還有銲錫業者來說，表面絕緣電阻降低、板材產生離子遷移與CAF(陽極導電性細絲物)..等，都是現今所必須要面對的課題之一，... |
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專有名詞解釋 |
離子遷移與相關印刷電路板專有名詞介紹與說明 |
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高速表面絕緣電阻量測系統 |
(size: 420 KB) |
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離子遷移&絕緣電組 |
(size:276KB) |
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SIR委測實驗室 |
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宜特科技 http://www.isti.com.tw/ 台灣（繁） http://www.isti.com.cn 大陸（簡） |
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台灣檢驗科技-SGS http://www.tw.sgs.com/zh_tw/home_tw |
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