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■表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006)
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RoHs的要求與各國對於無鉛產品的認同，加速各個生產廠商無不淘空心思解決產品再導入無鉛製程的問題，但是一家公司的產品線非常多，由於現在很多都是少量多樣的彈性生產，需要同一個時間進行多項產品的試驗，但是離子遷移的量測需要好幾百個小時，所以使用者希望能夠進行多軌的遷移試驗，而且也希望能夠降低使用成本，所以慶聲特別針對客戶的需求，研發出掃瞄式的表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006)，可擴充達200軌的遷移量測，而且突破傳統掃瞄式表面絕緣電阻量測系統的極限，無法記錄遷移結束時間還有紀錄遷移發生時間，原本SIR-2003所擁有的圖型曲線分析功能也都具備，讓客戶以最少的設備成本，可以得到最大的生產效益。 |
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各軌具備洩漏電流偵測迴路，各軌同步紀錄離子遷移狀態(發生時間、結束時間、遷移時間)
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世界首創軌道發生遷移，不停止量測，可持續記錄遷移發生情況
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寬裕量測與施加電壓0.5V∼250V(解析度0.1V)，施加電壓可正負切換，滿足離子遷移&表面絕緣電阻
試驗條件
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量測軌道擴充量大，最大可擴充200軌
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產品名稱 |
表面絕緣電阻量測系統SIR-2006 | | 測定電壓範圍 |
0.5V∼250V(0.5~200V/0.1Step，200V以上/1V Step) | | 最大channel數 |
200 Channel | | 電阻量測範圍 |
1×10^6Ω∼1 ×10^13Ω | | 直流電流測定範圍 |
(10pA∼500uA)自動切換5段直流電流量測範圍 | | Bias Supply 方式 |
1 Power Supply → 40 CH | |
洩漏電流偵測速度 |
1us(各軌獨立偵測)[可設定洩漏電流偵測大小] | |
漏電流測定放大器 |
Low
Bias 電流高精度OP放大迴路 |
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表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006)機台建議擺設示意圖 |
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| ※以上規格僅供參考，如有變更不另行通知。 |
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縮圖 |
名稱 |
檔案大小 |
頁數 |
下載 |
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表面絕緣電阻量測系統SIR-2006 |
(size:
560KB) |
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