■最新消息

       

 

HSIR高速表面 絕緣電阻(絕緣阻抗)量測系統新品出爐!!

2003/06/04    作者:江志宏
 
 

近年來在電子機器提高功能和性能的同時,也要求小型化與重量輕,其IC構裝密度日趨提高的情形下迅速發展,使得導體之間距一再逼近趨密,加上有環保意識高漲,使用免洗助焊劑、無鉛焊接技術、開發環保型印刷電路板爲必然趨勢,因而造成板面導體間可能發生"離子遷移"(ION MIGRATION)的機會增大,使得短路故障等問題更容易發生。

尤其是可攜帶型或移動型的電子産品如PDA、手機、Table PC..等,當使用環境經常變動時,可能會因爲溫度與濕度的急遽變化而産生水氣凝結的"結露"現象,進而在工作電流的驅使下,很可能在導體間出現離子遷移的現象,使得機器發生漏電而失效,在縮短産品開發時間的同時,同樣也要確保産品的可靠度及穩定性。

爲了滿足這兩方面的需求,必須更有效、更精確地實施相關環境試驗測試。慶聲科技了協助客戶達到這方面的環境試驗需求,將環境試驗設備與電氣特性量測設備互相結合,研發設計出了能夠在環境試驗條件下,對待測物的相關特性進行連續且高速的動態測量,即時把握待測物電氣或物理特性的動態變化,並判定與記錄各種異常狀況之自動測量系統,簡稱HSIR量測系統。