HAST加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用於調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

產品特點

符合國際規範的三項控制模式：

• 可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規範要求，3種控制模式包含：不飽和控制(乾濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

符合規範單槽結構設計：

• IEC60068-2-66、JESDEC A110、A118

模式新升級：

• 出色的溫濕度精密控制邏輯，防止待測品潮濕與結露的模式選擇。

壓力數據真實呈現：

• 壓力值採實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度。

全方位安全保護系統：

• 三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機台停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等...，完善的保護裝置，保障實驗室與操作人員安全。

完善的擴充選擇：

• 保護待測品的時序裝置&BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實驗規範要求，模擬待測品在高溫、高濕環境下，加載最大工作電壓，檢測內部封裝模組材料接合與保護層的滲透，並且觀察是否造成遷移。

彩色觸控式控制器

規格表

溫濕度可控制能力範圍表