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錫鬚(晶鬚)試驗解決方案

作者:江志宏

錫鬚(晶鬚)[Whisker],元器件製造在導入無鉛化的過程當中,為了維持零組件的可焊性常以鍍純錫來取代原用的錫鉛 ,但是經過一段時間之後,在常溫底下純錫鍍層就會長出樹枝狀的突出物,稱之為錫鬚(晶鬚),錫鬚與大家常說的離子遷移是完全不一樣的東西 ,請大家要注意,如果錫鬚的長度太長,會造成導體或零組件之間的短路,目前已經訂定出相關的錫鬚檢測標準還有錫鬚的環境試驗測試方式 可協助相關企業測試錫鬚的抑制方式,以及避免錫鬚的方法以符合相關無鉛製程的重金屬的要求與標準,在高密度構裝的電子產品裡面(手機 、PDA、MP3、汽車電子..等),錫鬚的要求更是刻不容緩,慶聲希望透過相關資料的收集與整理,幫助慶聲的客戶盡快導入錫鬚試驗 ,提升與強化企業本身的競爭力。

下方為錫鬚生長出來之圖片:

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錫鬚(晶鬚)試驗方式介紹:

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■ 錫鬚(晶鬚)試驗方式-室溫環境儲存:

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■ 錫鬚(晶鬚)試驗方式-高溫環境儲存:

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■ 錫鬚(晶鬚)試驗方式-溫濕度儲存:

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■ 錫鬚(晶鬚)試驗方式-溫度衝擊(TST):

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■ 錫鬚(晶鬚)試驗方式-溫度循環(RAMP):

(02) 2208 4002

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