太陽能電池&模組PID(Potential Induced Degradation 電勢誘發衰減)測試系統

說明：
          太陽能面板"效能衰減"是目前太陽能電池廠商面臨重要的問題。為了避免產品的效能衰減，PID free（免於電勢差誘發衰減）相關認證儼然成為諸多廠商的出貨重要規範，根據市場研究機構TrendForce研究部門EnergyTrend的調查顯示，歐美客戶更已將PID free列為採購規範，太陽能電池廠商相繼跟進相信必是趨勢。

　　PID (Potential Induced Degradation，電勢誘發衰減測試)，是指太陽能模組的帶電部分、接地邊框或接地外部之間的潛在高電壓，可能會導致模組的退化；退化現象受多種機制影響，包含電位誘發衰減、極化、電解腐蝕、電化學腐蝕。

　　嚴重時候，甚至會導致其一模組功率衰減50%以上，而影響整個系統的功率輸出。PID效應：這種高強度負電壓誘發的元件性能降低現象，其進行PID測試驗證，是結合太陽能模組所使用的各材料與封裝技術進行測試。因此，模組在太陽能發電系統中實際的應用條件以通過PID測試，驗證模組抗PID性能。

測試方式：
條件一：在85℃/85%R.H.的環境下，外加-1,000V的負向電壓連續測試，且模組測試前後功率與各項表現衰減比率至少不超過5%
測試時間：48、96、168、600小時

條件二：常溫環境，外加-1,000V的負向電壓，測試168小時
條件三：60℃/85%R.H.外加-1,000V的負向電壓，測試96、168小時