|
part(������) |
���~���i�H��˪��̤p�i����M�סA�p���ߥb���龹��B�q���B�n��q���B�k�I�M�s�������C |
|
assembly(�ե�) |
�]�p���i�ˤJ�Y�@�椸�ûP�����Ψ�L������@�_�u�@�A�B�Ѥ@�w�ƶq��������զ����զX��A�p�L�s�u���O����B�q���ҲթM�Ϥߦs�J���Ҳյ��C |
|
unit(�椸) |
�˦b���c�����@�Ǿ��c�ۧt������M(��)�ե�C���৹���@�ӯS�w�\��Τ@�ե\��A�åB�i�@���@�ӿW�ߪ������q�t�Τ��A�p�۰ʾr�p�����q���M�ư��W�q�T�]�ƪ��o�g���C |
|
equipment/system(�]�ƩΨt��) |
���s�βո˦b�@�_��A����槹��\��Y�z�椸���`�١A�p���汱��t�ΩM�q�T�t�ΡC |
|
item(���~) |
�i�H��W�Ҽ{�����@����B�椸�B�]�ƩΨt�Ϊ��κ١C |
|
defect(�ʳ�) |
���~���i��ɭP�X�{�G�٪��T���λ��o�����z�I�C |
|
patent
defect(����ʳ�) |
�α`�W���ˬd�B�\����թM��L�W�w����k�A�Ӥ��ݥ��������O�z��i�o�{���ʳ��C |
|
latent
defect(��b�ʳ�) |
�α`�W���ˬd�B�\����թM��L�W�w����k����o�{���ʳ��C�䤤�@�����ʳ��Y�����������O�z��N��ư��A�h�b�ϥ����Ҥ��i��|�H�����G�٧Φ����S�X�ӡC |
|
escaped defect(�|�z�ʳ�) |
�ޤJ�ʳ����οz��M�˴������o�{�A�|�J��U�@�ո˵��Ū������C |
|
defect
density(�ʳ��K��) |
�@��(��)���~���C�Ӳ��~�ҧt�ʳ��������ơC�ʳ��K�ץi�����ޤJ�ʳ��K�סB�|�z�ʳ��K�סB�ݯd�ʳ��K�שM�[��쪺�ݯd�ʳ��K�סC |
|
part
fraction defective(������ʳ��v) |
�H�ʸU�����@(ppm)�������ܪ��@�դ������ʳ�������ҥe����ҡC |
|
fallout(�R�X�q) |
�b���O�z������Φb���O�z�蠟��ߧY�˴��쪺�G�ټơC |
|
screenable latent defect(�i�z��X����b�ʳ�) |
�{���ϥΤ����P���O�H�����G�٧Φ��R�X���ʳ��A�w�q�z�襤�i��G�ٲv�j�� ����b�ʳ��@���n�z��X����b�ʳ��C |
|
stress
screening(���O�z��) |
�N�������O�B�q���O�M(��)�����O�I�[�첣�~�W�A�H�Ϥ�����M�u���譱����b�ʳ��H�����G�٧Φ��R�X���L�{�C |
|
screen
parameter(�z��Ѽ�) |
�z��פ��������ѰѼơA�p���ʶq�ȡA�ū��ܤƳt�v�M����ɶ����C |
|
screening strength(�z���) |
���~���s�b��Y�@�S�w�z��ӷP����b�ʳ��ɡA�ӿz��N�ӯʳ��H�G�٧Φ��R�X�����v�C |
|
test
detection efficiency(�˴��IJv) |
�˴��R���{�ת��q�A���O�ѳW�w�˴��{���o�{���ʳ��ƻP�z�X���`�ʳ��Ƥ���ȡC |
|
test
strength of screening(�z���˥X��) |
�οz��M�˴��N�ʳ��R�X�����v�A���O�z��שM�˴��IJv�����n�C |
|
thermal survey(�����w) |
�Ϩ��z���~�B��W�w�ūפU�A�æb���~��������������q����^���S�ʪ��L�{�C��������i�H�O���D�ʳ̤j������A�]�i�H�O���䳡��C |
|
vibration survey(���ʴ��w) |
�Ϩ��z���~�g�����ʿE�y�A�æb���~������������q�䮶�ʦ^���S�ʪ��L�{�C��������i�H�O�w�p�^���̤j����A�]�i�H�O���䳡��C |
|
selection/placement of screening(�z�諸��ܩM�w��) |
�t�Φa��̦ܳ��Ī����O�z��ç⥦�w�Ʀb�A�����ո˯ŤW���L�{�C |
|
yield(�z�令�~�v) |
�g�z��榬�ɡA�]�Ƥ��i�z��X����b�ʳ����s�����v�C |
