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簡稱 |
中文 |
英文 |
說明 |
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8D |
解決問題方法 |
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AEC |
汽車電子設備協會 |
Automotive Electronic Council |
由車廠[克萊斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽車(GM)]發起並創立於1994年，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子與半導體廠商。 |
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AEC-Q001 |
零件平均測試指導原則 |
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AEC-Q002 |
統計式良品率分析的指導原則 |
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AEC-Q003 |
晶片產品的電性表現特性化的指導原則 |
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AEC-Q005 |
無鉛測試要求 |
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AEC-Q100 |
基於積體電路應力測試認證的失效機理 |
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規範了零件供應商所必須達成的產品品質與可靠度，試驗條件多仍以JEDEC或MIL-STD為主，外加上其他獨立建置的測試手法。 |
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AEC-Q100-001 |
邦線切應力測試 |
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AEC-Q100-002 |
人體模式靜電放電測試 |
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AEC-Q100-003 |
機械模式靜電放電測試 |
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AEC-Q100-004 |
積體電路閂鎖效應測試 |
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AEC-Q100-005 |
可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試 |
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AEC-Q100-006 |
熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試 |
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AEC-Q100-007 |
故障仿真和測試等級 |
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AEC-Q100-008 |
早期壽命失效率（ELFR） |
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AEC-Q100-009 |
電分配評估 |
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AEC-Q100-010 |
錫球剪切測試 |
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AEC-Q100-011 |
帶電器件模式的靜電放電測試 |
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AEC-Q100-012 |
12V系統靈敏功率設備的短路可靠性描述 |
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AEC-Q101 |
汽車級半導體分立器件應力測試認證 |
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AEC-Q200 |
無源器件應力測試標準 |
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AEC-Q200-001 |
阻燃測試 |
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AEC-Q200-002 |
人體模式靜電放電測試 |
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AEC-Q200-003 |
橫樑負載、斷裂強度 |
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AEC-Q200-004 |
自恢復保險絲測量程式 |
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AEC-Q200-005 |
板彎曲度測試 |
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AEC-Q200-006 |
表面貼裝後的剪切強度測試 |
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AEC-Q200-007 |
電湧測試 |
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汽車等級認證 |
Automotive Grade Qualification |
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DWV |
耐壓 |
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DPM |
百萬缺陷數 |
defect per million |
半導體元件的缺陷率 |
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EIA-469 |
破壞性的物理分析 |
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EIA-198 |
陶瓷電介質電容器 |
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EIA-535 |
鉭電容 |
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ESD |
靜電放電 |
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EWS |
電性晶圓測試 |
Eletrical Wafer Sort |
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FIT |
故障時間 |
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HRCF |
高可靠性認證流程 |
High Reliability Certified Flow |
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IEC 10605 |
靜電放電人體模式 |
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ISO-26262 |
車輛機能安全 |
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ISO-7637-1 |
道路車輛電子干擾 |
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JEDEC-STD-002 |
可焊性規格 |
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JEDEC-STD-121 |
測量錫和錫合金表面塗層的錫鬚生長測試方法 |
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JEDEC-STD-201 |
錫和錫合金表面塗層的錫鬚環境驗收要求 |
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JEDEC22A-104 |
溫度循環 |
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MIL-PRF-27 |
電感/變壓器的測試方法 |
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MIL-STD-202 |
國防部標準電子及電氣元件測試方法 |
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NEMI |
東京錫鬚會議 |
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PPAT |
參數零件平均測試 |
Parametric Part Average Testing |
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PPB |
十億分之一 |
Parts Per Billion |
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篩選方法 |
Screening Method |
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SYA |
統計性良率分析 |
Statistical yield analysis |
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應力測試 |
Stress Test |
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UL-STD-94 |
塑膠材料可燃性測試 |
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