■最新試驗條件

       

 

多軌表面絕緣電阻量測解決方案

   2006/09/14  作者:慶聲科技

 

 

       RoHs的要求與各國對於無鉛產品的認同,加速各個生產廠商無不淘空心思解決產品再導入無鉛製程的問題,但是一家公司的產品線非常多,由於現在很多都是少量多樣的彈性生產,需要同一個時間進行多項產品的試驗,但是離子遷移的量測需要好幾百個小時,所以使用者希望能夠進行多軌的遷移試驗,而且也希望能夠降低使用成本,所以慶聲特別針對客戶的需求,研發出掃瞄式的表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006),可擴充達200軌的遷移量測,而且突破傳統掃瞄式表面絕緣電阻量測系統的極限,無法記錄遷移結束時間還有紀錄遷移發生時間,原本SIR-2003所擁有的圖型曲線分析功能也都具備,讓客戶以最少的設備成本,可以得到最大的生產效益。

 

  產品特性


˙各軌具備洩漏電流偵測迴路,各軌同步紀錄離子
    遷移狀態
   (發生時間、結束時間、遷移時間)。
‧世界首創軌道發生遷移,不停止量測,可持續記
    錄遷移發生情況。
˙寬裕量測與施加電壓0.5V~250V(解析度0.1V),施
    加電壓可
    正負切換,滿足所有離子遷移試驗條件 。
˙量測軌道擴充量大,最大可擴充200軌。
˙業界首創RAID雙硬碟及自動定時備份資料保護
    架構。
 

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