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掃瞄式的表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006B-250V)，可擴充達200軌的遷移量測，而且突破傳統掃瞄式表面絕緣電阻量測系統的極限，無法記錄遷移結束時間還有紀錄遷移發生時間，讓客戶以最少的設備成本，可以得到最大的生產效益。
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| 產品特點Product Feature： | 相關技術文章Technical Paper： |
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科技創新技術 |
| ☆各軌具備洩漏電流偵測迴路，各軌同步紀錄離子遷移狀態(發生時間、結束時間、遷移時間) |
| ☆世界首創軌道發生遷移，不停止量測，可持續記錄遷移發生情況 |
| ☆寬裕量測與施加電壓0.5V∼250V(解析度0.1V)施加電壓可正負切換，滿足離子遷移&表面絕緣電阻試驗條件 |
| ☆量測軌道擴充量大，最大可擴充200軌 |
| ☆完整偵測各軌發生遷移狀況.不間斷持續監控 |
| ☆各層彈性設定(群組&時間&電流保護＆洩漏電流偵測點.......等 |
| ☆超值標配40channel超大擴充可到200channel |
| ☆即時讀取時間/電阻值/溫度/溫度之讀值 |
☆Toshiba＆IPC-B-25A SIR測試電路注意事項
☆離子遷移量測系統•環境試驗常見問題整理
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全程偵測遷移狀況 |
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各層設定不同測定條件 |
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200channel擴充超大 |
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數據即時曲線化顯示 |
| 技術規格Specification table： |
| 產品名稱 | 表面絕緣電阻量測系統SIR-2006B-250V |
| 測定電壓範圍 | 0.5V∼250V(0.5~200V/0.1Step，200V以上/1V Step) |
| 最大channel數 | 200 Channel |
| 電阻量測範圍 | 1×10^6Ω∼1 ×10^13Ω |
| 直流電流測定範圍 | (10pA∼500uA)自動切換5段直流電流量測範圍 |
| Bias Supply 方式 | 1 Power Supply → 40 CH |
| 洩漏電流偵測速度 | 1us(各軌獨立偵測)[可設定洩漏電流偵測大小] |
| 資料取樣速度 | 1 Sec/Channel |
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表面絕緣電阻量測系統(SIR-2006B-250V)機台建議擺設示意圖 |
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※以上規格僅供參考，如有變更不另行通知。 |
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| 資料下載Data Download： |
縮圖 |
名稱 | 檔案大小 | 頁數 |
下載 |
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表面絕緣電阻量測系統SIR-2006B-250V | (size: 5.8MB) |
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SIR相關資料整理 |
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SIR試驗條件 |
無鉛製程的相關可靠度問題，對於PCB&FPC還有銲錫業者來說，表面絕緣電阻降低、板材產生離子遷移與CAF(陽極導電性細絲物)..等，都是現今所必須要面對的課題之一，... |
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專有名詞解釋 |
離子遷移與相關印刷電路板專有名詞介紹與說明 |
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高速表面絕緣電阻量測系統 |
(size: 420 KB) |
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離子遷移&絕緣電組 |
(size:276KB) |
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SIR委測實驗室 |
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宜特科技 http://www.isti.com.tw/ 台灣（繁） http://www.isti.com.cn 大陸（簡） |
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台灣檢驗科技-SGS http://www.tw.sgs.com/zh_tw/home_tw |
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