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作者:江志宏

   
GJB

GB

GB(電器.電子元件)

GB-PCB

MIL

IPC

IPC-1

太陽能

IEC


 

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MIL

  ■第二部份 實驗室試驗方法

項目 規範條件 規範名稱(中文)

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0 MIL-STD 810F系列 環境工程條件和試驗室測試試驗方法  
1 MIL-STD-810F-500.4 低氣壓(高度)  
2 MIL-STD-810F-501.4 高溫

下載

3 MIL-STD-810F-502.4 低溫

下載

4 MIL-STD-810F-503.5 溫度衝擊  
5 MIL-STD-810F-504 液體污染  
6 MIL-STD-810F-505.4 太陽輻射(日照)  
7 MIL-STD-810F-506.4 淋雨  
8 MIL-STD-810F-507.4 濕度

下載

9 MIL-STD-810F-508.5 黴菌  
10 MIL-STD-810F-509.4  
11 MIL-STD-810F-510.4 砂間  
12 MIL-STD-810F-511.4 爆炸性大氣  
13 MIL-STD-810F-512.4 浸漬  
14 MIL-STD-810F-513.5 加速度  
15 MIL-STD-810F-514.5 振動  
16 MIL-STD-810F-515.5 噪音  
17 MIL-STD-810F-516.4 衝擊  
18 MIL-STD-810F-517 爆炸分離衝擊  
19 MIL-STD-810F-518 酸性大氣  
20 MIL-STD-810F-519 炮擊振動  
21 MIL-STD-810F-520-2 溫度-濕度-振動-高度  
22 MIL-STD-810F-521.2

積冰/凍雨

 
23 MIL-STD-810F-522 彈道衝擊  
24 MIL-STD-810F-523-2 振聲/溫度  
25 MIL-STD-462D 電磁干擾特性測量  
26 MIL-S-19500H 半導體器件總規範  
27 MIL-STD-750C 半導體器件試驗方法  
28 MIL-STD-883E-1004.7 抗濕性  
29 MIL-STD-883E-1005.8 穩定狀態壽命  
30 MIL-STD-883E-1006 間歇壽命  
31 MIL-STD-883E-1010.7 溫度迴圈  
32 MIL-STD-883E-1011.9 熱衝擊  
33 MIL-STD-883E-1015.9 老化試驗  

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