¡@
¡½2009®iÄý¦^ÅU

¼yÁn©ó2009¦~ªº¥xÆW°ê»Ú¤Ó¶§¥ú¹q½×¾Âº[®iÄý·| ¶êº¡ªºµ²§ô¡A«D±`·PÁ¨ì³õ°ÑÆ[ªº¶Q»«¡A±zªºªÖ©w¡AÅý¼yÁn·P¨ìµL¤ñªººa©¯¡A¦b®iÄý¤¤§Ú­Ì¤]¯S§OÄwµe©çÄá¤@¨t¦C¼yÁn¤Ó¶§¯à¶q´ú¨t²Î²¤¶¡A´£¨Ñµ¹¦]¦£¸L¦ÓµLªk¨ì³õªº«È¤áÂsÄý¡A¼yÁn¦b¤Ó¶§¯à¹q¦À¼Ò²Õ¥i¾a«×´ú¸Õ¤W¯à´£¨Ñ±z­þ¨ÇªA°È¡A³£¯à°÷³z¹L¼v¤ù¨Ó¬°±z¤@¤@¤¶²Ð¡C

·í¤Ñ¼ö¯Pªº°Ñ®i±¡ªp¡G

¤Ó¶§¯à¥ú¹q¨«´Y¸ê·½Â×´I¤H¼é¤£Â_

¡@

¼yÁn¬ì§Þ®i¦ì¥þ»ª

¡@
¼yÁn®i¦ì«e¿Ô¸ß¶Q»«
¡@

¼yÁn¤Ó¶§¯à¥ú¹q®i¼v¤ù¤¶²Ð

®iÄý°Ó«~¡G
¤Ó¶§¯à¹q¦À·Å´`»PÀã§N­á¸ÕÅç¾÷
(Thermal cycling and Humidity-freeze Chamber for Crystalline silicon PV modules )
¤Ó¶§¯à¹q¦À¶}¸ô¶q´ú¨t²Î
(Photovoltaic Module Electrical Performance Test )

§Þ³N¸ê°T³sµ²°Ñ¦Ò

 IEC61215´¹¶ê¤Ó¶§¯à¹q¦À IEC 61215 ¤Ó¶§¯à¼Ò²Õ¥i¾a«×¸ÕÅç
 IEEE1513»E¥ú¤Ó¶§¯à¹q¦À IEEE 1513 ·Å«×´`Àô¸ÕÅç&Àã§N­á¸ÕÅç&Àã¼ö¸ÕÅç
 UL 1703 ¥­ªO«¬¤Ó¶§¯à UL1703 ¥­ªO«¬¤Ó¶§¯à²Õ¥ó¦w¥þ»{ÃҼзÇ
 IEC61646Á¡½¤¤Ó¶§¯à¹q¦À IEC 61646 Á¡½¤¤Ó¶§¥ú¹q¼Ò²Õ´ú¸Õ¼Ð·Ç
 IEC61730¤Ó¶§¯à¹q¦À¦w¥þ IEC61730 ¤Ó¶§¯à¹q¦À¨t²Î¦w¥þų©w-µ²ºc»P´ú¸Õ­n¨D
 IEC62108»E¥ú¤Ó¶§¯à¹q¦À IEC62108 »E¥ú¤Ó¶§¯à±µ¦¬¾¹©M¹s¥ó¤§µû¦ô¼Ð·Ç

¾÷¥x³Ì·s®ø®§
Á¡½¤«¬¤Ó¶§¯à·Å´`»PÀã§N­á¸ÕÅç¾÷
´¹¶ê«¬¤Ó¶§¯à·Å´`»PÀã§N­á¸ÕÅç¾÷