＊CAF、遷移測試整合經驗
＊首創軌道發生遷移，不停止量測，可持續記錄遷移發生情況
＊寬裕量測與施加電壓0.5V∼250V(解析度0.1V)，施加電壓可正負切換，滿足離子遷移、CAF、表面絕緣電阻試驗條件。
＊各軌具備洩漏電流偵測迴路，各軌同步紀錄離子遷移狀態(發生時間、結束時間、遷移時間)。

◎ SIR是一種信賴性試驗設備，在印刷電路板上將成對的電極交錯連接成梳形電路(Pattern)，在高溫高濕環境下給予偏壓(BIAS VOLTAGE)，經長時間試驗並觀察線路是否有瞬間短路或出現絕緣失效的緩慢漏電情形發生，也可看出助銲劑或其他化學物品，於PCB板面殘留的不可靠度如何，靜態量測為表面絕緣電阻(SIR)量測，動態量測為離子遷移(ION MIGRATION)量測，以及CAF(Conductive Anodic Filament)[導電性細絲物]試驗。

IPC-650-2.6.3：85℃/85%R.H.、45∼50V、168h
JPCA2006-DG02：85℃/85R.H.、15V、1000h
IEC-61189-5：40℃/93 %R.H.、5V、72 h
IPC-SF-G18：50℃/96%R.H.、45V∼50V、1000∼1500 h
ISO/PWI 9455-17-2002：85℃/85%R.H.、50V、21天
JIS C6481-1：23℃/90%R.H.、100V、168h

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