VMR-S多功能高速導通
電阻量測分析系統
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「多功能高速導通電阻量測分析系統」能夠在定點溫度、高溫高濕、高低溫冷熱衝擊、高低溫快速溫度循環、高度加速壽命試驗,各種可靠度環境試驗下,高速量測、紀錄、數據分析各種材料與銲點,如:FPC、PCBA、電阻、電感、 電容、BGA、CSP銲點、先進封裝(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP...等)的接合度可靠性,協助客戶快速有效分析產品接合點可靠度評估。
產品特點
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Laboratory Class:
- 符合國際規範的多軌高速掃瞄式量測(2sec/per 10ch)。
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可執行溫度循環、溫度衝擊及定點量測:
- 搭配溫度衝擊機、溫度循環機、恆溫恆濕機、HAST、震動台進行測試整合。
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可設定失效上限、下限電阻值與失效變化率:
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測試過程環境試驗設備溫濕度與量測同步合併紀錄與分析:
- 於同一視窗可直接觀看溫度衝擊或溫度循環及阻值的紀錄曲線。
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三種語系操作界面:
規格表
