Toshiba＆IPC-B-25A SIR測試電路注意事項

作者:江志宏

說明：

針對於日本Toshiba的TEST Pattern的特殊測試電路，以及PCB業界常用的IPC-B-25A TEST Patter，使用慶聲SIR量測系統的測試方式說明。

Toshiba SIR試驗要求：

測試條件：

溫濕度：85℃/85%R.H.
電壓：量測電壓12VDC、測試電壓12VDC
試驗時間：連續測試650小時，每200小時量測一次絕緣阻值
判定標准：絕緣電阻值在10^8Ω以上(非連續量測)

Toshiba測試pattren外觀照片：

正確架線量測方式：

說明：針對A部(A portion)只有三個測試點使用兩軌道進行SIR量測，使用一軌電源端提供量測電壓給兩個測試點使用，第二軌的電源端不使用(仍然有電壓輸出，因此電源端不可接任何線路)，進行試驗前需將遷移量測次數設定為最大值，避免試驗中途停止。

其他實驗注意事項：

如下圖 PCB Pattern(IPC-B-25A)在早期非自動量測時,依實驗規範不同可能每隔12小時，才量測一筆，同時用人工量測4組的電阻值，分別為A-B、B-C、C-D、D-E，但目前採用自動量測，量測是同時進行，因此有電源及量測同時存在的問題，為遵守電氣量測的規則，自動量測時採兩組4點方式進行，分別為A-B、D-E，C點則不使用，以防止如果其中一組已經遷移將會影響到另一組的實驗結果。