AI伺服器可靠度解決方案
作者:慶聲科技
🔎 TL;DR
TL（Too Long）：
AI伺服器運作產生大量熱量，需要高可靠度的環境測試與散熱系統來確保穩定。
DR（Did Read）：
慶聲科技提供可程式恆溫恆濕試驗機、冷熱衝擊機、HAST 高度加速壽命試驗機與表面絕緣電阻量測系統，模擬極端環境溫濕度與偏壓條件，支援 JEDEC、AEC、LV124 等國際規範，有效降低伺服器故障風險，並保障長期壽命。
📌 實務案例
某雲端服務商在導入 AI 伺服器叢集時，利用 HAST（130℃/85%RH/96h）與溫度循環（−40℃↔85℃/500 次）測試 GPU 與 BMC 模組，
搭配多軌表面溫度控制進行通訊監控。測試揭露部分 PCB 材料在高濕環境下的 CAF 失效風險，工程團隊因此更換 CCL 材料並優化散熱設計，最終確保整機穩定性，並順利通過國際客戶驗證。
說明：在AI伺服器的運行過程中，會產生大量的熱量，因此可靠的散熱系統是確保伺服器穩定運行的重要關鍵。慶聲科技提供的AI伺服器解決方案包括多種先進的環境測試設備，如可程式恆溫恆濕試驗機、冷熱衝擊機-熱應力複合機、高度加速壽命試驗機和表面絕緣電阻量測系統等，這些設備可以模擬極端環境下的溫度變化，進行待測品表溫控制、高溫、高濕、高壓等加速老化試驗，以評估AI伺服器及其元件的可靠性，減少故障風險，確保其在各種嚴苛條件下的穩定性和壽命。
慶聲可靠度試驗設備通訊命令與測試整合應用案例
- 通訊命令可傳出表溫(最多8軌、須加購硬體)，客戶可自行應用
- 可傳出試驗爐開門狀態(門要加開關偵測是否開門)
- 當量測系統異常，可經由通訊命令,告知THS要停機，並顯示故障
- 可傳出代測品表溫最慢的一軌溫度給[導通電阻量測系統VMR]進行整合
整理6篇有關於[AI]可靠度測試的技術文章
- AEC-Q100-基於積體電路應力測試認證的失效機理
- 溫度循環與溫度衝擊試驗依據規範進行待測品表溫控制(JEDEC22-A104、AEC-Q100、LV124、ED-4702A)
- PCB透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗
- JEDEC半導體可靠度測試與規範
- 可靠度環境試驗設備結合多軌溫度控制與偵測應用
- AI Server雲端運算與儲存產業離子遷移/CAF解決方案
- 板級溫度循環瞬斷試驗
常見問與答（FAQ）
常見測試包含高溫操作、低溫啟動、85/85 高濕試驗、超低濕靜電敏感測試、結露模擬、溫度循環與壓力鍋試驗，對應 IEC 60068、JEDEC22 與 AEC-Q100 標準。
HAST（高度加速壽命測試）可在高溫高濕與偏壓下加速失效模式，常用於 GPU、記憶體模組與 PCB 的 CAF 與 MIG 風險評估，是 AI 伺服器高濕度環境可靠度的核心驗證方法。
慶聲設備可傳輸多軌表溫（最多 8 軌），並回報試驗爐開門狀態、異常停機與最慢升溫軌給導通電阻量測系統。這種整合讓測試結果更精準，提升自動化監控效益。
供應鏈涵蓋 GPU（NVIDIA、Intel、AMD）、記憶體（Micron、SK Hynix、Samsung）、BMC（Aspeed、新唐）、PCB（欣興、南電、健鼎）、電源（台達、光寶）、散熱（奇鋐、雙鴻）、組裝（廣達、鴻海、技嘉、緯創）等完整環節。
透過模擬嚴苛環境條件，能提前暴露材料與設計缺陷，避免量產後發生大規模失效。這不僅降低售後成本，也提升品牌信任度，並加速產品通過國際認證與客戶導入。
為方便客戶查詢，整理出AI伺服器供應鏈：
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封測
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記憶體
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