AEC-Q200試驗條件
作者:江志宏
🔎 TL;DR
TL：
AEC-Q200 是針對「被動元件」的車規可靠度標準，核心試驗源自 MIL-STD-202 與 JEDEC22，確保元件可承受車用環境的熱、濕、機械與電氣應力。
DR：
實務上常見關鍵項目包括高溫儲存、工作壽命、溫度循環、溫度衝擊、85/85 高濕與濕度抵抗；搭配妥善的樣本數與判定準則，可將不良型態（如 ESR 漲升、漏電、介質破壞）在設計階段提前暴露，縮短導入時程並提升整車可靠度。
📌 實務案例
電動車 OBC（On-Board Charger）電源模組大量使用鋁電解與陶瓷電容。專案初期導入 AEC-Q200 之「高溫工作壽命＋85/85 高濕」組合測試，並持續監控 ESR、漏電流與容量漂移。
測試顯示部分供應商的電容在 85℃/85%RH 連續 1000 小時後 ESR 顯著上升。團隊據此調整規格與封裝材質，改採更高耐濕等級與低 ESR 型號，最終使量產品在 −40~105℃ 的整車熱循環條件下仍維持穩定電源品質，成功降低現場退貨率。
AEC-Q200的環境試驗條件，主要是依據MIL-STD-202與JEDEC22A-104規範來制定的，不同零件的試驗溫度除了不一樣之外，其施加電源(電壓、電流、負載)要求也會有所不同，高溫儲存屬於不施加偏壓與負載，但是在高溫工作壽命就需要，溫度循環與溫度衝擊，其試驗目的與手法不一樣，在溫度循環中高低溫變化需控制溫變率，溫衝擊則不用，偏高濕度就是俗稱的高溫高濕試驗，而濕度抵抗就是濕冷凍試驗
試驗條件注意事項：1000h試驗過程需在250h、500h進行間隔量測
高溫儲存(MIL-STD-202-108)：[適用設備：THS]
薄膜電容、網路低通濾波器、網路電阻、熱敏電阻、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h
電感、變壓器、電阻：125℃/1000h
變阻器：150℃/1000h
鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容：最大額定溫度/1000h
高溫工作壽命(MIL-STD-202-108)：[適用設備：THS]
網路低通濾波器、網路電阻：85℃/1000h
EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h/施加額定IL
鉭電容、陶瓷電容：最大額定溫度/1000h/ (2/3)負載/額定電壓
鋁電解電容、電感、變壓器：105℃/1000h
薄膜電容：1000h/(85℃/125%額定電壓、105℃&125℃/100%額定電壓)
自恢復保險絲：125℃/1000h
電阻、熱敏電阻、可變電容：125℃/1000h/額定電壓
可變電阻：125℃/1000h/額定功率
變阻器：125℃/1000h/額定電壓85％+ma電流
陶瓷共鳴器：85℃/1000h/額定VDD+1MΩ，並聯逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容
石英震盪器：125℃/1000h/額定VDD+1MΩ，並聯逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容
溫度循環(JEDEC22A-104)：[適用設備：TSC、ESS]
薄膜電容、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：-55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
鉭電容、陶瓷電容、電阻、熱敏電阻： -55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles
鋁電解電容：-40℃(30min)←→105℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles
電感、變壓器、變阻器、石英震盪器、自恢復保險絲：-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
網路低通濾波器、網路電阻：-55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles
溫度衝擊(MIL-STD-202-107)：[適用設備：TC、ATSK]
自恢復保險絲：-40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles、復歸時間5min
偏高濕度(MIL-STD-202-103)：[適用設備：THS]
鉭電容、陶瓷電容：85℃/85%R.H./1000h/電壓1.3～1.5V
電感&變壓器：85℃/85%R.H./1000h/不通電
鋁電解電容：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓
E
MI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓＆電流
電阻、熱敏電阻：85℃/85%R.H./1000h/工作電源10%
自恢復保險絲：85℃/85%R.H./1000h/額定電流10%
可變電容、可變電阻：85℃/85%R.H./1000h/額定功率10%
網路低通濾波器&網路電阻：85℃/85%R.H./1000h/電壓[網路電容(額定電壓)、網路電阻(10%額定功率)]
變阻器：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓85％+ma電流
石英震盪器、陶瓷共鳴器：85℃/85%R.H./1000h/額定VDD+1MΩ，並聯逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容
薄膜電容：40℃/93%R.H./1000h/額定電壓
濕度抵抗(MIL-STD-202-106)：[適用設備：THS]
薄膜電容：(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h，每一cycle共24h，step7a&7b不通電
常見問與答（FAQ）
AEC-Q200 是針對「被動元件」（如電阻、電容、電感、濾波器、變壓器、EMI 抑制器等）的車規可靠度要求，試驗方法多引用 MIL-STD-202 與 JEDEC22。
不同於 AEC-Q100（IC）與 Q101（離散半導體）等零件等級標準，Q200 以被動元件的失效模式為重點，並依車用環境特徵制定更嚴格的條件與合格判定。
常見試驗包含高溫儲存（評估介質與封裝耐熱性）、高溫工作壽命（帶偏壓與負載的壽命驗證）、溫度循環（熱疲勞與材料匹配性）、溫度衝擊（快速熱應力）、85/85 高濕（耐濕與離子遷移）、濕度抵抗（吸濕-乾燥循環）。
依元件類型不同，亦可能加做振動、焊端可焊性、鹽霧、耐溶劑等，完整模擬整車環境。
85/85 高濕在 85℃/85%RH 下長時程施測，偏向「恒定高濕壓力」；濕度抵抗則是吸濕—乾燥的交變循環，偏向「環境變化下的濕度疲勞」。
對鋁電解電容而言，前者常見 ESR 上升、漏電增加；對高介電常數 MLCC，則需留意介質吸濕造成的絕緣下降與微裂風險。
量產導入建議以零缺陷（0-fail）與 C=0 抽樣概念規劃，搭配 AEC 建議的最低樣本量與多批次來源；判定通常以電性能變化（如 ESR/容值/阻值偏移、Q 值、絕緣電阻）與外觀/結構檢查為主。
對安全關鍵位號可加嚴至更長時數與更嚴格允收帶（guard-band），並建立失效分析回饋流程。
AEC-Q200 多數試驗直接引用或等同於 MIL-STD-202／JEDEC22 的方法，但車規對溫度範圍、時數與合格判定常更嚴格。實務常見誤區是僅比對方法號碼而忽略車規加嚴條件，或未將車用溫域（如 −40~105/125℃）對齊。
建議建立「方法對照表」與「條件差異表」，並在 DVP&R 中清楚標注 AEC 準則、樣本數與判定門檻。
