汽車電子可靠度測試解決方案
作者:江志宏
TL;DR
TL:汽車電子可靠度測試需依循 AEC、ISO、IEC 等國際規範，搭配不同設備模擬溫度、濕度與壽命條件。
DR: 常見設備如恆溫恆濕機、熱應力複合機、冷熱衝擊機與 HAST，分別對應高溫儲存、工作壽命、溫循、偏壓濕熱與壓力鍋測試，廣泛應用於 ECU、電池管理系統與感測器。
📌 實務案例
某 Tier1 汽車電子供應商在導入 ECU 模組時，需同時符合 AEC-Q100 與 LV124 測試。工程團隊使用 HAST（130℃/85%RH/96h）驗證 IC 封裝可靠度，並搭配冷熱衝擊試驗模擬 −40℃ 至 150℃ 的極端轉換。最終成功通過國際車廠審核，並量產交付歐洲市場。
說明：以下為汽車電子常用測試規範之整理，不同的規範條件對應不同的試驗設備，簡易對照之相關資訊提供給客戶做為參考
汽車電子可靠度測試分級：
AEC Q-100可靠度測試項目：
AEC Q-101可靠度測試項目：
高度加速壽命試驗機測試項目:
汽車電子可靠度測試解決方案：
| 測試設備 |
法規要求 |
測試項目 |
恆溫恆濕機
THS
|
ISO16750
LV 124
AEC Q-100
AEC Q-101
AECQ-200
IEC60068-2
|
Pre-Condition |
| Temp. and Humidity Bias |
| High Temp. Storage Life |
| High Temp. Operating Life |
熱應力複合機
TSC |
ISO16750
LV124
AEC Q-100
AEC Q-101
AECQ-200 |
Temp. Cycling - Ramp |
冷熱衝擊試驗機
ATSK |
AEC Q-200 |
Power Temp. Cycling - Ramp |
高度加速壽命試驗機
HASTPLUS |
AEC Q-100 |
Pre-Conditioning
Biased HAST
Autoclave
Unbiased HAST |
| AEC Q-101 |
| IEC 60068-2-66 |
| IEC 60749-4 |
| JESD-22-A102-C |
| JESD-22-A110C |
| JESD-22-A118 |
| JIS C60068-2-66 |
| JEITA ED-4701/100 |
常見問與答（FAQ）
常見標準包含 AEC-Q100（IC）、AEC-Q101（分立元件）、AEC-Q200（被動元件）、ISO 16750（道路車輛電氣環境）、LV124（德系車廠標準）與 IEC 60068-2（環境測試方法）。這些標準提供了溫度、濕度、振動與壽命條件的完整驗證依據。
HAST（Highly Accelerated Stress Test）可在高溫高濕與偏壓條件下，加速模擬 IC 與電子模組的失效機制，例如金屬遷移或封裝劣化。此測試常應用於 AEC-Q100 與 IEC 60749-4 的驗證流程中。
冷熱衝擊為樣本在極短時間內切換 −40℃ 至 +150℃ 的條件，主要驗證材料熱膨脹差異造成的失效。溫度循環則以一定速率升降溫（如 10~15℃/min），模擬自然環境中的熱疲勞。AEC 與 IEC 標準會依不同應用選擇適合的方法。
常見設備包含恆溫恆濕機（THS）、熱應力複合機（TSC）、冷熱衝擊試驗機（ATSK）與高度加速壽命試驗機（HAST）。它們可執行高溫儲存、高溫工作壽命、溫循、偏壓濕熱、Autoclave 與壓力鍋測試，對應 AEC 與 IEC 規範。
AEC-Q100 針對 IC 可靠度測試，Q101 著重於分立元件如二極體與功率元件，Q200 則為被動元件（電阻電容電感）。三者構成了車用電子零件的主要可靠度驗證架構，分別引用 JEDEC、MIL 與 IEC 測試方法，確保不同零件均能符合車用環境要求。
