太陽能模組應用HAST試驗目的
作者:江志宏
📘 摘要總覽（TL;DR）
摘要：HAST（高度加速壽命試驗）可在不飽和高濕（85%RH）與高溫高壓環境下，以 264 小時加速模組的封裝與吸濕退化評估。
TL（Too Long）：HAST 的條件為 110℃/85%RH/264h，相較傳統 DH 85/85/1000h 可大幅縮短時間，仍能觀察功率退化、吸濕率與腐蝕等失效模式。
DR（Did Read）：文件指出部分模組需超過 1250 小時才出現退化。HAST 透過溫度×濕度×壓力的外部水汽分壓差加速滲透，評估密封完整性與材料吸濕，並建議製作 20×20 cm 小型樣品以配合壓力鍋腔體。
說明：
在太陽模模組規範IEC61215、UL1703所提到的DH(濕熱試驗)，條件為85℃/85％R.H./1000小時，時間需要耗時42小時，現今業者甚至提高到1250小時以上，才能夠看到模組出現退化效應，為了能夠縮短試驗時間，選擇導入HAST(高度加速壽命) 試驗手法，所謂的HAST是提高環境應力(溫度&濕度&壓力)，在不飽和濕度環境下(濕度：85%R.H.)加快試驗過程，用來評定模組的密封效果與背板吸濕狀況，縮短產品的壽命試驗時間(85℃/85％R.H./1000h→110℃/85％R.H./264h)，HAST試驗主要參考規範為IEC60068-2-66、JEDEC 22A-110，透過HAST可以觀察模組在老化(Power loss)、穿透率、吸濕率的加速退化情形，以及是否出現腐蝕、脫層…現象。
應用機台說明：
試驗方式：
配合壓力鍋體尺寸製作小型測試樣品(20*20cm)進行試驗
常見問答（FAQ）
文件指出有些模組需至 1250 小時才顯示退化，時程過長。HAST 可在 264 小時內加速暴露封裝與背板吸濕問題。
相對 PCT 的飽和蒸氣，HAST 維持 85%RH 並在加壓高溫下進行，以外部水汽壓高於樣品內部分壓差為原理，加速水分侵入。
為配合壓力鍋腔體尺寸並提升通量，能在較短時間內評估材料與結構差異，同時保留電性與外觀量測路徑以便對比。
HAST 與 DH 為互補關係。DH 用於長期滲透壽命評估，HAST 則用於加速篩檢與設計變更驗證。
文件提及 IEC 60068-2-66 與 JEDEC 22A-110 為主要依據，可依內部品質門檻建立條件矩陣。
